干法全自動激光粒度分析儀

LAP-D2000干法全自動激光粒度分析儀

我公司視“打造國產(chǎn)穩(wěn)定的激光粒度儀器”為己任，以科技創(chuàng)品牌、質量闖市場、信譽贏天下為方針，全力打造超穩(wěn)定、高性價比的國產(chǎn)激光粒度儀器。D2000自上市以來贏得了廣大客戶的*。

LAP-D2000屬于干法全自動激光粒度儀，被廣泛應用到粉體行業(yè)，我公司針對不同行業(yè)設計了不同模板，客戶可根據(jù)自己需要選擇水泥模版、磨料模版等等。

智能型干粉激光粒度分析儀控制系統(tǒng)原理圖

LAP-D2000激光粒度分析儀主要性能特點：

*的光路設計：LAP-D2000采用會聚光傅立葉變換測試技術保證在較短的焦距獲得較大量程，有效提高儀器的分辨能力；*的小探頭排布，讓D2000擁有了*的小顆粒測試能力。*的自動對中系統(tǒng)及電腦操作系統(tǒng)彰顯出LAP-D2000人性化設計。

高穩(wěn)定光路優(yōu)化：*的設計讓LAP-D2000擁有了*的高穩(wěn)定光路，它采用了高穩(wěn)定、大功率光纖輸出激光器，優(yōu)良的配置使LAP-D2000擁有了*的穩(wěn)定性；主要光路采取了全封閉設計，保證了儀器在復雜環(huán)境長時間測試。

*的干法分散系統(tǒng)：D2000分散系統(tǒng)在法國理論數(shù)據(jù)的基礎上進行了優(yōu)化設計，使LAP-D2000對干粉的分散更加均勻，*的負壓保證了進料的連續(xù)性及均勻性，有效避免測試過程中干粉的相互粘連。

   探測器：LAP-D2000探測器采用了主探測器與副探測器結合的全新設計，保證了儀器全量程內無縫探測，使測試更加準確。主探測器設計了自動對中系統(tǒng)，可實現(xiàn)儀器的一鍵自動對中，彰顯人性化設計。同時有效避免手動對中對探測器的損害，有效延長了儀器的使用壽命。

防塵、防震設計：儀器整體進行了密封設計，大幅提高了內部元器件使用壽命。*的懸浮式結構能有效避免外界震動對儀器的干擾，使結果測試更穩(wěn)定可靠。

光路自動校對：光路微變，儀器可以自行對光路進行調節(jié)，避免手動調節(jié)時損壞探測器。

管道無殘留：測試完成后管道內無殘留樣品，不會對下次測試造成干擾。

計算機控制喂料：測試人員可借助計算機控制儀器進料量。

軟件：符合藥典GMP規(guī)定，具有電子簽名、權限設置、數(shù)據(jù)追蹤、數(shù)據(jù)不可更改等功能。

對于制藥行業(yè)客戶，可以提供3Q認證。

測試界面

光路自動對中功能圖

主要技術參數(shù)：

測試報告：